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干式變壓器局部放電試驗(yàn)設(shè)備及試驗(yàn)方法

試驗(yàn)設(shè)備

局部放電測(cè)試系統(tǒng)主要由以下幾部分組成:

試驗(yàn)電源

要求:必須是中頻(通常100-400Hz)或工頻(50/60Hz)的無(wú)局放電源,以提供足夠高的試驗(yàn)電壓而不被背景干擾淹沒(méi)。

類(lèi)型:

中頻發(fā)電機(jī)組(MFC):最傳統(tǒng)、最可靠的方式,由電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)中頻發(fā)電機(jī)產(chǎn)生正弦波。容量大、波形好,但體積大、成本高。

電子式變頻電源(AC/DC/AC逆變器):現(xiàn)代主流,通過(guò)電力電子技術(shù)將工頻轉(zhuǎn)換為中頻。體積小、重量輕、頻率可調(diào),但對(duì)設(shè)計(jì)制造要求高,需確保其自身無(wú)局放。

串聯(lián)諧振系統(tǒng):對(duì)于大容量變壓器,可配合電抗器使用,降低對(duì)電源容量的要求。

耦合電容器:并聯(lián)在試品兩端,為局放脈沖提供低阻抗通道,將其耦合到檢測(cè)阻抗上。其自身的局放水平必須遠(yuǎn)低于變壓器要求值。

檢測(cè)阻抗(檢測(cè)單元):連接在耦合電容器的接地端,是一個(gè)無(wú)感電阻或RLC電路,用于拾取局放脈沖信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)。

局放測(cè)量?jī)x(PD Analyzer)

核心設(shè)備,接收來(lái)自檢測(cè)阻抗的信號(hào)。

局部放電測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵功能:

濾波與放大:從強(qiáng)烈的背景噪聲中提取微弱的局放信號(hào)。

顯示與測(cè)量:顯示局放脈沖的波形、幅值(pC)、相位(φ)以及放電次數(shù)(N)。

圖譜分析:現(xiàn)代數(shù)字式局放儀能顯示φ-q-n圖譜(相位-放電量-放電次數(shù)),幫助判斷放電類(lèi)型(如內(nèi)部放電、表面放電、電暈放電)。

必須定期校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)器:在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后,用于向變壓器端子注入已知電荷量的標(biāo)準(zhǔn)脈沖,以校準(zhǔn)整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)的視在放電量(pC)。這是確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可比的關(guān)鍵步驟。

屏蔽與接地系統(tǒng):

屏蔽室/屏蔽帳篷:為排除空間電磁干擾,整個(gè)試驗(yàn)回路(變壓器、電源、測(cè)量線)應(yīng)在金屬屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

單點(diǎn)接地:所有設(shè)備必須在一點(diǎn)接地,形成等電位,防止地環(huán)流引入干擾。

試驗(yàn)方法(步驟與要點(diǎn))

試驗(yàn)通常在變壓器制造完成、例行試驗(yàn)時(shí)進(jìn)行,也用于安裝后的交接試驗(yàn)或故障診斷。

基本試驗(yàn)電路:通常采用并聯(lián)接法,耦合電容器與試品并聯(lián),檢測(cè)阻抗串接在耦合電容接地端。

主要試驗(yàn)步驟:

準(zhǔn)備工作:

變壓器本體清潔、干燥,環(huán)境濕度符合要求(通常<85%)。

布置好所有設(shè)備,連接線路應(yīng)短而牢固,使用同軸屏蔽電纜。

搭建好屏蔽環(huán)境,并確保可靠的單點(diǎn)接地。

試驗(yàn)區(qū)域設(shè)置安全圍欄和警示標(biāo)志。

系統(tǒng)校準(zhǔn):

將校準(zhǔn)器并聯(lián)在變壓器高壓端子與地之間。

向系統(tǒng)注入已知電荷量(如100pC)的標(biāo)準(zhǔn)方波脈沖。

調(diào)節(jié)局放儀的刻度系數(shù),使屏幕顯示讀數(shù)與注入量一致。記錄該刻度系數(shù)。

背景噪聲測(cè)量:

在不施加試驗(yàn)電壓或施加很低電壓(遠(yuǎn)低于起始電壓)時(shí),測(cè)量并記錄背景噪聲水平。通常要求背景噪聲<5 pC或低于允許局放量的50%。

升壓與預(yù)加壓:

以平穩(wěn)的速度將電壓升至1.8倍額定相電壓(Um) 或技術(shù)協(xié)議規(guī)定的預(yù)加電壓值。

保持此電壓 60秒。此過(guò)程旨在“活化”可能存在的絕緣缺陷,使其在后面的測(cè)量電壓下更容易被發(fā)現(xiàn)。

降壓至測(cè)量電壓并保持:

將電壓降至 1.5倍額定相電壓(Um) 或技術(shù)協(xié)議規(guī)定的局放測(cè)量電壓(通常為 1.3-1.7倍額定電壓)。

保持此電壓至少30秒,同時(shí)進(jìn)行局放測(cè)量。這是核心測(cè)量階段。

關(guān)鍵記錄:在此電壓下,讀取并記錄穩(wěn)定的最大視在放電量(pC)。

降壓與復(fù)校:

將電壓降至零,斷開(kāi)電源。

再次進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn),驗(yàn)證測(cè)量回路的刻度系數(shù)未發(fā)生變化(變化應(yīng)在±10%以?xún)?nèi)),否則本次試驗(yàn)無(wú)效。

數(shù)據(jù)記錄與圖譜分析:

記錄試驗(yàn)電壓、背景噪聲、測(cè)量電壓下的局放量。

分析φ-q-n圖譜,判斷放電類(lèi)型和可能位置。